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HITACHI EA1200VX X射線熒光光譜儀采用高計(jì)數(shù)率設(shè)計(jì)的Vortex高分辨率之硅半導(dǎo)體多陰極檢測器，計(jì)數(shù)率可達(dá)150,000 cps，是一般檢測器的15~20倍，能接受更多的Ｘ?zé)晒庥嵦枺槍辖鸹蛩芰细叻肿又兄鞒煞旨拔⒘吭胤治龅膽?yīng)用。

X射線熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司、粉末冶金企業(yè)等對復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。

這款TrueX手持式合金分析儀（XRF）是鍋爐、容器、管道、制造等高溫高壓行業(yè)對生產(chǎn)過程中進(jìn)行材料可靠性鑒別（PMI）的重要手段。在鋼鐵冶煉、有色金屬、航空航天、武器制造、潛艇船舶等軍、國家重點(diǎn)工程行業(yè)的生產(chǎn)過程中對金屬材料進(jìn)行識別。

二手天瑞環(huán)保檢測儀器 Rohs光譜儀規(guī)格如下： 產(chǎn)品名稱：RoHS無鹵檢測儀Ux-220 測試元素范圍：S-U中的元素 儀器尺寸：640（W）x450（D）x412（H）mm 樣品腔尺寸：300*300*80mm

EDX-LE是一款于RoHS/ELV/法規(guī)限制的有害元素篩選分析的X射線熒光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實(shí)現(xiàn)降低運(yùn)作成本和更易維護(hù)的同時(shí)，以維持高可信性分析和進(jìn)一步提高操作性達(dá)到自動化分析為目標(biāo)。 根據(jù)不同樣品從開始測試到得到結(jié)果所需測試時(shí)間基本上可在1分鐘內(nèi)完成，所以*可以應(yīng)對RoHS法規(guī)中所限制的有害元素的篩選分析。