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EDX系列x熒光光譜儀

EDX系列x熒光光譜儀

產(chǎn)品介紹:EDX系列x熒光光譜儀,能量色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測(cè)量、工業(yè)鍍層厚度測(cè)量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體以及各種合 金、貴金屬成份分析.

更新時(shí)間:2024-01-22

產(chǎn)品報(bào)價(jià):

EDX系列x熒光光譜儀的詳細(xì)資料:

EDX系列x熒光光譜儀,能量色散X射線熒光光譜儀應(yīng)用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測(cè)量、工業(yè)鍍層厚度測(cè)量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質(zhì)和半導(dǎo)體以及各種合金、貴金屬成份分析.
EDX系列x熒光光譜儀主要特點(diǎn)
分析元素范圍 S-U

分析元素的濃度范圍 2ppm—100%
整機(jī)穩(wěn)定性連續(xù)8小時(shí)測(cè)RSD<0.25%
● ROHS/WEEE檢測(cè)時(shí)間100-120

美國(guó)進(jìn)口電制冷Si(Pin)探測(cè)器

電制冷Si(Pin)探測(cè)器 晶體面積15mm2分辨率<155eV
全數(shù)字脈沖處理器技術(shù)

優(yōu)異的峰背比、*的痕量分析靈敏度

● 50KV,50W自防護(hù)X-射線管

復(fù)合濾光片智能切換技術(shù)

特征:

可分析精確分析氯元素和油漆中的鉛

集成FP法,Alpha系數(shù)法、經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法

安全聯(lián)動(dòng)裝置,軟硬結(jié)合的輻射設(shè)計(jì)

操作簡(jiǎn)單、一鍵式操作

智能軟件自動(dòng)參數(shù)設(shè)定和選擇濾光片

 X射線管超溫保護(hù)

電子冷卻,無(wú)需液氮和其它耗材

技術(shù)規(guī)格

 

儀器型號(hào)

EDX-1800x熒光光譜儀

分析原理

能量色散X射線熒光分析法

分析范圍

S(16)-U(92)任意元素

檢出下限

Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm

樣品形狀

任意大小,任何不規(guī)則形狀

樣品類型

塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等

X射線管

靶材

鉬(Mo)靶

管電壓

5─50KV

管電流

1─1000uA

探測(cè)器

美國(guó)AMP-TEK Si-PIN探測(cè)器,高速脈沖高度分析系統(tǒng)

高壓發(fā)生器

美國(guó)SPELLMAN高壓發(fā)生器

濾光片

智能濾光片自動(dòng)選擇并自動(dòng)轉(zhuǎn)換

樣品觀察

500萬(wàn)彩色攝像機(jī)

分析軟件

*升級(jí)

分析方法

Alpha系數(shù)法(NBS-GSC法)、FP法、標(biāo)準(zhǔn)曲線法

符合規(guī)范

IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006

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