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　　X射線熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司、粉末冶金企業(yè)等對復(fù)雜成份、多類型櫚中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激發(fā)效果，并且測試時(shí)間短，大大提高了檢測效率和工作效率；

　　X射線熒光光譜儀采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的*性；利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術(shù)使分類更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對測量帶來的影響；采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。

　　X射線熒光光譜儀的性能特點(diǎn)：

　　1、專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料、粉末冶金、磁性材料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。

　　2、內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號處理能力25倍。

　　3、針對不同樣品可自動切換準(zhǔn)直器和濾光片。

　　4、電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。

　　5、智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。

　　X射線熒光光譜儀的主要用途：

　　1、熒光激發(fā)光譜和熒光發(fā)射光譜

　　2、同步熒光(波長和能量)掃描光譜

　　3、3D(ExEmIntensity)

　　4、TimeBase和CWA(固定波長單點(diǎn)測量)

　　5、熒光壽命測量，包括壽命分辨及時(shí)間分辨

　　6、計(jì)算機(jī)采集光譜數(shù)據(jù)和處理數(shù)據(jù)(Datamax和Gram32)